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精測電子Micro-LED CT AOI檢測設(shè)備成功交付省級實驗室

字體變大  字體變小 發(fā)布日期:2024-09-24  瀏覽次數(shù):1013
核心提示:  9月19日,精測電子(300567)Micro-LED CT AOI檢測設(shè)備順利出機正式交付某省級實驗室客戶,此實驗室是由當(dāng)?shù)厥∥≌鷾?zhǔn)成立的當(dāng)?shù)厥准沂〖墝嶒炇,且是由?dāng)?shù)匾患?11高校舉辦的獨立法人事業(yè)單位。這是精測電子自主研發(fā)的Micro-LED CT AOI設(shè)備首次在高校實驗室產(chǎn)學(xué)研領(lǐng)域成功交付,標(biāo)志著精測電子在泛半導(dǎo)體檢測領(lǐng)域取得又一重要突破。
 

  9月19日,精測電子(300567)Micro-LED CT AOI檢測設(shè)備順利出機正式交付某省級實驗室客戶,此實驗室是由當(dāng)?shù)厥∥≌鷾?zhǔn)成立的當(dāng)?shù)厥准沂〖墝嶒炇,且是由?dāng)?shù)匾患?11高校舉辦的獨立法人事業(yè)單位。這是精測電子自主研發(fā)的Micro-LED CT AOI設(shè)備首次在高校實驗室產(chǎn)學(xué)研領(lǐng)域成功交付,標(biāo)志著精測電子在泛半導(dǎo)體檢測領(lǐng)域取得又一重要突破。

  精測電子自主研發(fā)的晶圓外觀檢測設(shè)備主要應(yīng)用于半導(dǎo)體晶圓廠、封測廠及 Micro-LED、 Mini-LED新型顯示晶圓前后道缺陷檢測:主要采用顯微光學(xué)方案針對晶圓的μm級外觀缺陷進行檢測及量測;同時可擴展到晶圓Bumping 3D量測及 LED 3D量測應(yīng)用。晶圓外觀檢查機設(shè)備軟算全自主開發(fā),擁有自主知識產(chǎn)權(quán),結(jié)合精測電子在質(zhì)量檢測領(lǐng)域的多年技術(shù)經(jīng)驗積累,助推晶圓光學(xué)檢測設(shè)備國產(chǎn)化應(yīng)用。

  Micro-LED CT AOI檢測設(shè)備在省級實驗室的順利交付是精測電子在泛半導(dǎo)體檢測板圖上的又一重大突破。未來,精測電子將繼續(xù)秉持著良率管理專家的行業(yè)定位,深耕品牌,精耕技術(shù),推動泛半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)鏈協(xié)同進步,助力行業(yè)快速發(fā)展。

 
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