LED芯片設備操作簡便. 讀數(shù)直觀.造型美觀

鹽霧腐蝕試驗箱通過考核對材料及其防護層的鹽霧腐蝕的能力，以及相似防護層的工藝質量比較，同時可考核某些產品抗鹽霧腐蝕的能力；該產品造用于零部件、電子元件、金屬材料的防護層以及工業(yè)產品的鹽霧腐蝕試驗。

LED芯片設備精致獨特.耐腐蝕性.明朗清晰

整體為進口PP增強硬質塑料板，表面光潔平整，并耐老化、耐腐蝕；易清洗、無泄露，摒棄玻璃鋼材質應時間而產生表面退色纖維化，全透明進口耐沖擊板材制造，便于試驗時觀測試驗樣品受試狀況.

LED芯片設備人性化設計.科學化試驗

超大鹽水箱設計，杜絕因缺少鹽水而中斷試驗

試驗箱所有管道均采用加厚型氟硅橡膠管，十五年可保持不老化及龜裂

LED芯片設備用途廣泛.功能強大.可塑性高

可做試驗方法

中性鹽霧試驗（NSS試驗）

鹽霧試驗（SS試驗）

醋酸鹽霧試驗（ASS試驗）

銅加速醋本能試驗

高溫濕熱試驗

鹽霧箱規(guī)格尺寸：

容積（單位：L）   工作室尺寸（D*W*H）mm 外型尺寸（D*W*H）mm

LRHS-108-RY      450×600×400          780×1140×1050

LRHS-270-RY      600×900×500          960×1460×1150

LRHS-412-RY      750×1100×500         1100×1730×1240

LRHS-663-RY      850×1300×600         1230×2150×1410

LRHS-816-RY      850×1600×600         1230×2450×1460

LRHS-1080-RY     900×2000×600         1280×2850×1460

【林頻】鹽霧箱符合標準：

GB/T 2423.17-2008   電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程第2部分：試驗方法試驗Ka；鹽霧試驗方法

GB/T 2423.18-2000   電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗試驗Kb：鹽霧交變（氯化鈉溶液）

GB-T 10125-1997     人造氣氛腐蝕試驗鹽霧試驗

GB/T 10587-2006     鹽霧試驗箱技術條件

GB/T 1771-2007      色漆和清漆耐中性鹽霧性能的測定

GB 10593.2-1990     電工電子產品環(huán)境參數(shù)測量方法鹽霧

GB/T 1765-1979      測定耐濕熱、耐鹽霧、耐侯性 (人工加速) 的漆膜制備法

GB/T 12967.3-2008   鋁及鋁合金陽極氧化膜檢測方法第3部分：銅加速乙酸鹽霧試驗（CASS試驗）

GB/T 5170.8-2008    電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法鹽霧試驗設備

以及等效的IEC、MIL、DIN、ASTM等相關標準或行業(yè)標準

一、鹽霧箱主要技術參數(shù)：

溫度范圍：RT+5℃～55℃

空氣飽和器：RT+10℃～70℃

濕度范圍：85～98%RH

溫度均勻度：±2℃

溫度波動度：±0.5℃

鹽霧沉降量：1～2ml/80cm2.h（16小時平均量）

壓縮空氣壓力：2.00±0.01（kg/cm2）

噴霧方式：連續(xù)/周期任選

試驗時間：1～9999 H、M、S（可調）

周期時間：1～99 H、M、S（可調）

試樣架：試樣架可滿足15°～30°傾斜試驗

二、LED芯片設備鹽霧箱噴霧系統(tǒng)

1、噴霧采用塔式噴霧器（塔尖高度可調節(jié)）導向鹽霧霧粒細小，自然沉降；噴嘴無鹽結晶，沉降量可調；

2、噴霧氣體進行兩級穩(wěn)壓調壓，同期予以油污過濾、氣體濕化預熱；

3、霧化鹽水儲存為內置隱藏式且儲存容量大，鹽水配有預熱功能；

4、鹽水霧化前配備石英鹽水過濾元件，避免噴嘴雜質堵塞爾終端試驗；

5、試驗箱所有管道均采用加厚型氟硅橡膠管，十五年可保持不老化及龜裂；

6、鹽水箱具有高低水位指示；

三、設備使用條件

1、環(huán)境溫度：5℃～＋28℃（24小時內平均溫度≤28℃）

2、環(huán)境濕度：≤85%RH

3、電源要求：AC220V±10%   50±0.5Hz  單相三線制

4、操作環(huán)境需要在室溫30度以下而且通風良好

5、機器放置前后左右各50公分不可放置東西

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